XII Открытый фестиваль ансамблевого музицирования «Концертино 2018»

07690196

28 и 29 марта 2018 года состоялся XII Открытый фестиваль ансамблевого музицирования «Концертино 2018». В категории «Учащиеся специального фортепиано» в номинации «Аккомпанемент» учащийся нашей школы Кривошеев Савелий VI класса стал лауреатом II степени (кл. преп. Е.В. Комиссаровой). В номинации «Фортепианный ансамбль» Клепач Александра (кл. преп. Н.Г. Тихомоловой) и Ковалева Анна (кл. преп.                    Н.П. Кузьминой) получили звание дипломантов I степени. В категории «Общее фортепиано» номинация «Сольное выступление» учащиеся преп. Т.В. Васениной: Манькова Ксения – диплом лауреата и Фадеева Елизавета – дипломант.

С благодарностью хочется отметить всех членов жюри и пожелать им огромных творческих успехов!

 

 

Новости

IMAGE Хореографический коллектив "К-studiya" принял участие в...
09.03.2024
6 марта 2024 года на сцене Саратовского областного театра оперетты... Read More...
IMAGE Учащиеся школы стали лауреатами Всероссийского...
09.03.2024
3 марта 2024 года в г.Липецк проходил II Всероссийский многожанровый конкурс... Read More...
Концерт класс Сафроновой Н.Г.
09.03.2024
2 марта 2024 года в нашей школе состоялся концерт класса Сафроновой Нины... Read More...

Недавние фото

Популярное

IMAGE Всероссийский фестиваль современной пластики «Птицы»
30.04.2016
17 апреля 2016 года состоялся Всероссийский фестиваль современной пластики «Птицы»... Read More...
IMAGE Международный фестиваль искусства и творчества...
30.04.2016
В Санкт-Петербурге завершился международный фестиваль искусства и творчества... Read More...
IMAGE Всероссийский хореографический конкурс «Танцующий...
30.04.2016
24 апреля 2016 года в городе Саратове состоялся Всероссийский хореографический... Read More...

banner svo

Рейтинг@Mail.ru
Независимая оценка качества
© Детская Школа Искусств №4 г.Энгельса
Напишите нам!
1000 максимум символов

Мы используем cookie Во время посещения сайта МБУДО "ДШИ № 4 ЭМР" вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее