XII Открытый фестиваль ансамблевого музицирования «Концертино 2018»

07690196

28 и 29 марта 2018 года состоялся XII Открытый фестиваль ансамблевого музицирования «Концертино 2018». В категории «Учащиеся специального фортепиано» в номинации «Аккомпанемент» учащийся нашей школы Кривошеев Савелий VI класса стал лауреатом II степени (кл. преп. Е.В. Комиссаровой). В номинации «Фортепианный ансамбль» Клепач Александра (кл. преп. Н.Г. Тихомоловой) и Ковалева Анна (кл. преп.                    Н.П. Кузьминой) получили звание дипломантов I степени. В категории «Общее фортепиано» номинация «Сольное выступление» учащиеся преп. Т.В. Васениной: Манькова Ксения – диплом лауреата и Фадеева Елизавета – дипломант.

С благодарностью хочется отметить всех членов жюри и пожелать им огромных творческих успехов!

 

 

Новости

IMAGE Кубок Санкт-Петербурга по художественному творчеству
20.01.2020
В период  с 30 декабря 2019 года по 8 января 2020 года в Выставочном комплексе... Read More...
IMAGE Гордость фортепианного отделения
22.04.2019
Гордостью фортепианного отделения с уверенностью можно назвать фортепианный... Read More...
IMAGE Концерт в Доме престарелых
08.04.2019
3 апреля 2019 года, в Доме престарелых и инвалидов прошел концерт учащихся "ДШИ № 4... Read More...

Недавние фото

Популярное

IMAGE Международный фестиваль искусства и творчества...
30.04.2016
В Санкт-Петербурге завершился международный фестиваль искусства и творчества... Read More...
IMAGE Всероссийский фестиваль современной пластики «Птицы»
30.04.2016
17 апреля 2016 года состоялся Всероссийский фестиваль современной пластики «Птицы»... Read More...
IMAGE Всероссийский хореографический конкурс «Танцующий...
30.04.2016
24 апреля 2016 года в городе Саратове состоялся Всероссийский хореографический... Read More...
Рейтинг@Mail.ru
Независимая оценка качества
© Детская Школа Искусств №4 г.Энгельса
Напишите нам!
1000 максимум символов

Мы используем cookie Во время посещения сайта МБУДО "ДШИ № 4 ЭМР" вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее